计算物理 ›› 2001, Vol. 18 ›› Issue (1): 91-96.
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WANG Yi1,2, WANG Jing-jin2, WANG Kui-lu1, LIU Guo-zhi1, DU Hong-liang1
摘要: 研制了一通用的Monte Carlo程序来研究X射线增感屏以及成象系统的性能.该程序主要包括三部分,分别描述了所发生的相应的物理过程:X射线的散射和吸收,次级电子的作用及可见光子的扩散.对程序进行了验证.对于一种Gd2O2S:Tb增感屏,计算了其在不同入射X射线能量下的点扩散函数.
中图分类号: