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耦合形貌对Si4团簇电子输运影响的第一性原理计算
柳福提, 张淑华, 程晓洪
计算物理    2018, 35 (2): 235-241.   DOI: 10.19596/j.cnki.1001-246x.7602
摘要411)   HTML0)    PDF (4509KB)(1309)   
运用密度泛函理论与非平衡格林函数相结合的方法,对Si4团簇与Au (100)-3×3两电极以顶位-顶位、顶位-空位、空位-空位三种形貌相连构成的Au-Si4-Au纳米结点的拉伸过程进行第一性原理模拟,计算不同构型纳米结点在不同距离的电导和结合能.讨论耦合形貌、距离对结点电导的影响,结合能的计算表明三种不同耦合形貌结点存在稳定平衡结构,其平衡电导分别为0.71 G0、0.96 G0和2.44 G0,且在-1.2 V~1.2 V的电压范围内,三种不同耦合形貌结点稳定结构表现出类似金属的导电特性,其I-V关系都近似为直线.计算结果表明Si4团簇与电极的耦合形貌、两极距离对纳米结点电子输运有重要影响.
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