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γ测厚仪的物理设计
冯正永, 肖臣国, 李印华, 施国顺
计算物理    1987, 4 (4): 469-479.  
摘要206)      PDF (659KB)(965)   
本文用蒙特卡罗方法研究了宽束γ射线通过介质的衰减情况,指出只要使用等效吸收系数(表观μ'值),仍可按指数规律处理,从而提出了γ测厚仪新的设计思想,以减小源强、增加计数率,提高测量精度。本工作用60keV的宽束γ射线在铝中的吸收实验,验证了蒙特卡罗理论计算结果。
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