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用边界元素法模拟FP-JTE终端结构
武自录, 罗晋生
计算物理 1999, 16 (
2
): 192-198.
摘要
（
249
）
PDF
（284KB）（
1139
）
可视化
提出了一种无须进行电离积分的用于高压结终端模拟的边界元素法,分析了界面电荷对FP-JTE终端结构击穿电压的影响,结果表明击穿电压几乎与界面电荷浓度呈线性关系,场板可减弱界面电荷对击穿电压的影响。
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