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射线增感屏点扩散函数的Monte Carlo模拟

王义, 王经瑾, 王奎禄, 刘国治, 杜宏亮

计算物理 2001, 18 (1): 91-96.

摘要（279）

PDF （179KB）（977）

研制了一通用的Monte Carlo程序来研究X射线增感屏以及成象系统的性能.该程序主要包括三部分,分别描述了所发生的相应的物理过程:X射线的散射和吸收,次级电子的作用及可见光子的扩散.对程序进行了验证.对于一种Gd₂O₂S:Tb增感屏,计算了其在不同入射X射线能量下的点扩散函数.