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薄膜微区厚度测定计算程序——Monte Carlo模拟

何延才, 黄月鸿, 胡敏

计算物理 1987, 4 (3): 380-384.

摘要（240）

PDF （379KB）（895）

根据作者发展的理论和计算方法^[1-8],编制了有衬底薄膜厚度测定的计算程序。本程序使用方便,已广泛应用于各类功能薄膜材料的测定计算中。

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X射线光子在固体中空间密度分布的蒙特卡罗模拟计算软件

胡幼华, 何延才, 胡敏, 陈家光

计算物理 1987, 4 (3): 371-379.

摘要（263）

PDF （580KB）（1149）

基于作者发展的物理模型和计算方法,编制了计算固体中X射线光子的空间密度分布的软件。该程序可模拟keV能量的电子束在固体中的散射过程和X射线光子的激发,定量给出X光光子的空间密度分布和包含不同比例光子数的空间范围。这对电子显微学的定量研究是很有意义的。

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微颗粒样品X射线定量分析Monte Carlo模拟计算软件

何延才, 曹立群, 胡敏, 陈家光

计算物理 1987, 4 (2): 227-234.

摘要（220）

PDF （459KB）（951）

基于作者前文[1,2]的物理模型和计算方法,编制了适用于多元微颗粒样品x射线定量分析的Monte Carlo程序软件,给出了对颗粒中电子散射,x射线激发、吸收和荧光效应等复杂物理过程进行严格计算的一系列公式,程序中建立了数据文件,具有较强的自动处理数据功能,本程序还适用于平厚块样品及薄膜样品的定量分析计算。

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