计算物理
Monte Carlo方法应用于二元合金薄膜微区成份及厚度的同时测定
何延才
MONTE CARLO METHOD ON SIMULTANEOUSLY MEASURING COMPOSITION AND THICKNESS OF FILMS IN MICRO-DOMAIN
HE YAN-CAI
计算物理 . 1984, (1): 114 -117 . 

作者中心

审稿中心

期刊浏览

期刊介绍


版权所有 © 《计算物理》编辑部
地址：北京市海淀区丰豪东路2号　邮编：100094　E-mail：jswl@iapcm.ac.cn
本系统由北京玛格泰克科技发展有限公司设计开发