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缺陷关联参数红外检测Levenberg-Marquardt改进识别算法研究

吕事桂, 杨立, 范春利, 孙丰瑞, 王为清

计算物理 2013, 30 (2): 214-220.

摘要（301）

PDF （881KB）（1072）

对Levenberg-Marquardt(LM)算法在缺陷参数估计修正过程中无法确保参数几何关联性的局限性进行改进,并保留原算法快速收敛的特性.以二维试件内部矩形缺陷红外检测为例,采用数值实验方法比较改进前后的LM算法,分析初始假设、红外测温误差对缺陷定量识别结果的影响.数值实验表明:改进后的LM算法参数修正过程中确保了关联性的一致性;不同初始假设对缺陷识别结果的影响不大;受红外测温误差的影响,各缺陷参数之间表现出不同的识别精度.

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二维不规则形状发热型缺陷的红外识别算法

范春利, 孙丰瑞, 杨立

计算物理 2009, 26 (6): 897-902.

摘要（339）

PDF （408KB）（1086）

对带有自身发热型缺陷的试件建立二维传热模型,利用有限元法进行求解,研究试件表面的温度分布规律,并根据共轭梯度法提出根据试件外表面红外测温,定量识别发热型内部缺陷边界轮廓的方法.数值实验证明了算法的有效性.对所研究缺陷类型,导热系数较小的试件识别精度较高;温度测量误差、测温点数目及缺陷轮廓初值假设对识别结果的影响可以忽略;检测表面最大温差越大,识别精度越高.

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