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静电场对SmC*相液晶作用的计算研究
钱祥忠
计算物理    1999, 16 (3): 316-320.  
摘要219)      PDF (196KB)(951)   
采用自洽模拟方法,计算研究了分子层面内的静电场对SmC*相液晶螺旋结构和铁电特性的影响。结果表明,SmC*相液晶的螺距和极化强度平均值随场强增大而增大,且越接近阈值电场增大越快;指向矢倾斜角和分子取向序参量随场强增大而缓慢增大;阈值电场与液晶的本征螺距和自发极化强度有关,并随温度升高而减小。
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