计算物理 ›› 2006, Vol. 23 ›› Issue (4): 470-476.
ZHANG Zhen-zhong1,2, JIANG Chang-zhong1, CHANG Kai2
摘要: 采用一种非线性的优化方法,研究了处于硬壁限制势下二维带电多粒子系统的基态,分析不同形状边界对系统基态构型的影响.由于圆形边界对称性高,基态结构和抛物限制势下情况相似.在正方形边界下,当系统粒子数N<66时,荷电粒子形成方形晶格;当N≥66时,由于边界影响被削弱,内层粒子形成六角维格纳晶格.进一步分析了椭圆和矩形边界对维格纳晶格的影响.
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