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Monte Carlo方法计算低能电子作用下固体背散射电子发射及空间分布

谭震宇, 何延才

计算物理 2001, 18 (3): 253-258.

摘要（340）

PDF （263KB）（1101）

应用Monte Carlo方法,对能量E₀≤5keV低能电子作用下固体Al、Cu、Ag、Au的背散射电子发射及表面空间分布作了计算.模型应用Mott散射截面及修正的Bethe方程分别描述低能电子在固体中的弹性和非弹性散射.计算了背散射电子能量分布、表面空间分布、深度分布和角分布规律及特征,还计算分析了背散射电子角分布与深度分布、表面空间分布及能量分布之间的关系,系统地描述了背散射电子的发射及分布规律.

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Monte Carlo方法模拟低能电子在多元介质中散射——基于平均散射截面方法

谭震宇, 何延才

计算物理 2000, 17 (3): 331-336.

摘要（259）

PDF （231KB）（1071）

应用基于平均散射截面低能电子在多元介质中散射Monte Carlo方法,模拟E₀≤5keV低能电子在多种多元介质中散射。计算了电子背散射系数,背散射电子能谱、角分布,入射电子、背散射电子在介质中的作用范围、沉积能分布,并与确定散射中心方法的结果比较。两种方法计算结果广泛一致,进一步证明基于平均散射截面方法的有效性和可靠性。入射电子能量较低,介质平均原子序数较大时,计算的背散射电子角分布不服从余弦分布律。

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低能电子束曝光中的Monte-Carlo方法及沉积能分布

谭震宇, 何延才

计算物理 1997, 14 (S1): 499-501.

摘要（283）

PDF （154KB）（1257）

建立一个低能电子在多元多层介质中散射Monte-Carlo模拟计算方法。低能电子在多元介质中弹性散射用Mot截面描述并应用作者提出的平均散射截面方法进行模拟计算;给出多元介质中修正的Bethe方程计算低能电子非弹性散射能量损失。计算了低能电子在电子束曝光胶中能量沉积分布。

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Monte Carlo方法计算背散射电子在固体中的空间分布

谭震宇, 何延才

计算物理 1995, 12 (4): 561-564.

摘要（211）

PDF （245KB）（1211）

应用Monte Carlo方法,对不同能量低能电子作用下背散射电子在固体中的空间分布作了计算,电子的弹性散射用Mott截面描述、非弹性散射按文献[3]的方法由Streitwolf、Quinn及Gryrinski的公式计算,大量计算得出一些规律,为低能电子显微学研究提供一定依据。

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低能电子非弹性散射阻止本领

谭震宇, 何延才

计算物理 1995, 12 (3): 315-319.

摘要（303）

PDF （318KB）（921）

电子在固体中的弹性散射用Mot截面描述,提出一个简化的壳层电子激发计算方法将文献[5]中对电子非弹性散射的模拟拓展到重元素,用MonteCarlo方法模拟低能电子在Al、Cu、Au中的散射过程,计算的背散射系数、薄膜透射系数与实验一致.由此,计算得低能电子非弹性散射阻止本领并与Love、Rao-SahibWittry以及Joy的修正Bethe阻止本领作比较分析.

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Monte Carlo方法模拟低能电子在Al中的散射

谭震宇, 何延才

计算物理 1995, 12 (2): 169-173.

摘要（258）

PDF （321KB）（972）

基于文献[1]的工作,电子在固体中的弹性散射用Mott微分截面计算;非弹性散射分为单电子激发和等离子激发并由Streitwolf、Gryzinski及Quinn的截面描述.模拟了低能电子在Al块样及薄膜中的散射过程,对不同能量低能电子作用下Al的背散射系统、能谱又透射系数作了计算,结果与实验符合较好.也对背散射电子、低能损背散射电子表面分布作了计算,结果表明低能损背散射电子具有较好的空间分辨率.

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Monte Carlo重整化群方法计算逾渗模型的临界指数

杨进, 杨祖宝, 何延才

计算物理 1994, 11 (1): 113-118.

摘要（242）

PDF （394KB）（1253）

本文运用Monte Carlo重整化群方法计算了点遍渗中次近邻正方格子的导通阈值和临界指数,得出与最近邻正方格子属于同一普适类的结论。

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解相对论Dirac方程计算低能电子弹性散射截面的分波法

谭震宇, 何延才

计算物理 1993, 10 (2): 239-245.

摘要（299）

PDF （393KB）（1110）

本文给出一个基于解相对论Dirac方程计算低能电子弹性散射截面的方法,比较Thomas-Fermi-Dirac(TFD)势及Hartree-Fock(HF)势对散射截面计算的影响,计算了C、Al、Cu、Ag、Au等多种元素在0.01~10keV能量范围的弹性散射截面,比较分析Mott模型、Pendry模型以及屏蔽的Rutherford截面之间的差异。

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解相对论Dirac方程的低能电子弹性散射截面分波法

谭震宇, 何延才

计算物理 1992, 9 (S1): 638-638.

摘要（229）

PDF （79KB）（865）

电子与固体相互作用是现代表面分析技术如SEM、EPMA及SAM等的物理基础。入射电子能量为几个keV或更低时,描述中能电子弹性散射的Rutherford截面不适用,需应用更为严格的量子力学分波法(PWM)。分波法计算电子弹性散射截面有解非相对论Schrodinger方程的pendry截面以及解相对论Dirac方程的Mott截面,但关于Mott截面的计算方法鲜见报导,且计算分析Mott截面、pendry截面及Rutherford截面之间的差异对描述低能电子在固体中散射物理过程十分重要。本文给出一个计算Mott截面的方法,由引入一变换使散射截面中相移计算由解复杂的Dirac方程转化为解一简单的一阶方程,应用Thomas-Fermi-Dirac(TFD)势函数,导出初值及相移计算式。

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Monte Carlo方法计算晶体析出相的X射线发射强度

何延才, 杨进, 陈家光

计算物理 1992, 9 (S1): 555-559.

摘要（160）

PDF （423KB）（807）

本文提出了用Mont Carlo模拟计算晶体中析出相X射线发射强度的理论和方法:严格计算晶体对析出相中电子散射的影响;用绝对法计算析出相的X射线深度分布函数;给出了析出相中X射线吸收及二次荧光计算公式。作为实例,对不同加速电压下Au、Cu基体中Cr-Fe-Ni合金析出相的X射线发射强度作了计算,并得出一些规律。本工作为析出相的电子探针定量显微分析(EPMA)研究奠定了基础。

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应用分波法计算低能电子弹性散射截面

谭震宇, 裘培勇, 何延才, 王心磊

计算物理 1991, 8 (2): 174-182.

摘要（326）

PDF （471KB）（980）

基于Pendry的工作,建立一个应用量子力学分波法计算低能电子弹性散射截面的方法,该方法采取Hartree近似和Hartree-Fock近似相结合,既节省计算机时又能将Pendry的算法延伸到keV以上能区。计算了元素Be、C、Al、Cu等的弹性散射截面,并与Screen-Rutherford截面进行比较。本文方法已用于低能电子散射研究中。文中给出计算程序框图。

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keV和低于keV的电子在固体中散射理论、计算方法及有关应用

何延才, 陈家光

计算物理 1989, 6 (1): 19-26.

摘要（242）

PDF （582KB）（1119）

本文讨论了keV和低于keV的电子在固体中散射的一般理论及Monte Carlo模拟计算方法,介绍了在电子显微学、电子束曝光等重要研究领域的一些应用实例。

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薄膜微区厚度测定计算程序——Monte Carlo模拟

何延才, 黄月鸿, 胡敏

计算物理 1987, 4 (3): 380-384.

摘要（240）

PDF （379KB）（894）

根据作者发展的理论和计算方法^[1-8],编制了有衬底薄膜厚度测定的计算程序。本程序使用方便,已广泛应用于各类功能薄膜材料的测定计算中。

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X射线光子在固体中空间密度分布的蒙特卡罗模拟计算软件

胡幼华, 何延才, 胡敏, 陈家光

计算物理 1987, 4 (3): 371-379.

摘要（263）

PDF （580KB）（1148）

基于作者发展的物理模型和计算方法,编制了计算固体中X射线光子的空间密度分布的软件。该程序可模拟keV能量的电子束在固体中的散射过程和X射线光子的激发,定量给出X光光子的空间密度分布和包含不同比例光子数的空间范围。这对电子显微学的定量研究是很有意义的。

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微颗粒样品X射线定量分析Monte Carlo模拟计算软件

何延才, 曹立群, 胡敏, 陈家光

计算物理 1987, 4 (2): 227-234.

摘要（220）

PDF （459KB）（950）

基于作者前文[1,2]的物理模型和计算方法,编制了适用于多元微颗粒样品x射线定量分析的Monte Carlo程序软件,给出了对颗粒中电子散射,x射线激发、吸收和荧光效应等复杂物理过程进行严格计算的一系列公式,程序中建立了数据文件,具有较强的自动处理数据功能,本程序还适用于平厚块样品及薄膜样品的定量分析计算。

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电子与固体相互作用的Monte Carlo模拟

何延才

计算物理 1985, 2 (1): 17-23.

摘要（234）

PDF （481KB）（1043）

本文提出了一个描述电子与固体相互作用的物理模型及Monte Carlo模拟方法。其计算结果较为简单,对背散射系数、透射系数及x射线深度分布函数的计算结果与文献报道的实验结果相符。本模型己成功地应用于薄膜、微颗粒体x射线定量分析的工作中。

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Monte Carlo方法应用于二元合金薄膜微区成份及厚度的同时测定

何延才

计算物理 1984, 1 (1): 114-117.

摘要（198）

PDF （247KB）（883）

本文着重分析粒子模拟中相空间周期性光滑化对噪声的抑制机制。文中引入光滑化等效"滤波"效应的概念,导出了波长相关的光滑化滤波系数的解析表达式。结果表明,光滑化主要是抑制短波噪声,并且它不引起静电波能量在波数空间的转移。

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