低能电子在样品中散射的蒙特卡罗方法模拟

计算物理 ›› 1991, Vol. 8 ›› Issue (2): 183-188.

低能电子在样品中散射的蒙特卡罗方法模拟

许淑艳, 陈师平

中国原子能科学研究院, 北京 102413

收稿日期:1990-10-19 出版日期:1991-06-25 发布日期:1991-06-25
基金资助:
国家自然科学基金

A MONTE CARLO SIMULATION FOR LOW ENERGY ELECTRONS SCATTERING IN THE SAMPLE

Xu Shuyan, Chen Shiping

China Institute of Atomic Energy

Received:1990-10-19 Online:1991-06-25 Published:1991-06-25

摘要/Abstract

摘要： 本文从已给物理假设及反应机制出发,叙述了电子在样品中散射的蒙特卡罗模拟方法,由于问题本身的特殊性,采用了指向概率和统计估计相结合的方法,得到了满意的结果。

关键词: 电子, 厚度效应, 指向概率, 统计估计

Abstract: A Monte Carlo simulation for low energy electrons scattering in the sample is presented in this paper. Since the particular features of the physical assumptions and the reaction mech anism, a method which combine the next-event estimator with the last-event estimator is employed. The results are satisfactory.

Key words: electron, thickness effect, next-event estimator, last-event estimates

许淑艳, 陈师平. 低能电子在样品中散射的蒙特卡罗方法模拟[J]. 计算物理, 1991, 8(2): 183-188.

Xu Shuyan, Chen Shiping. A MONTE CARLO SIMULATION FOR LOW ENERGY ELECTRONS SCATTERING IN THE SAMPLE[J]. CHINESE JOURNAL OF COMPUTATIONAL PHYSICS, 1991, 8(2): 183-188.

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